氣內(nèi)測校特點(diǎn)

φ3~φ150mm
每套氣內(nèi)測校含上下限校對(duì)規(guī)及氣內(nèi)測頭各1支。
與AQF浮標(biāo)式氣動(dòng)量儀配套，用作一般形式的盲孔及臺(tái)階孔測量。
被測孔長度：>8mm

也可配合電子柱量儀使用，它兼容浮標(biāo)式氣動(dòng)量儀所有倍率！精度高，效率高，讀數(shù)更直觀

氣內(nèi)測校使用方法  

測量頭的標(biāo)準(zhǔn)件是上、下限校對(duì)規(guī)（環(huán)規(guī)）各一個(gè)，用來校正量儀的倍率。測量時(shí)，將測量頭插入被測孔內(nèi)，量儀指示的數(shù)值為被測孔內(nèi)徑的誤差值。如果將測量頭沿被測孔作軸向移動(dòng)，量儀指示的差值為孔在移動(dòng)范圍內(nèi)的錐度。如果測量頭在被測孔內(nèi)作相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)，則可測得被測孔的圓度。